德國布魯克DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）可以提供更高的重復性和分辨率，測量重復性可以到5?。臺階儀這項性能的到了過去四十年Dektak技術，更加鞏固了其行業(yè)。不論應用于研發(fā)還是產品測量，通過在研究工作中的廣泛使用，DektakXT能夠做到功能更強大，操作更簡易，檢測過程和數(shù)據(jù)采集更完善。第十代DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術，使納米尺度的表面輪廓測量成為可能，從而可以廣泛的應用于微電子器件，半導體，電池，高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學領域。

   臺階儀DektakXT能實現(xiàn)：

   1、 使用溫度條件：10-30℃；

   2、很好的性能，臺階高度重現(xiàn)性低于4埃

   3、Single-arch設計提供掃描穩(wěn)定性

   4、的“智能電子器件"設立了新低噪音基準

   5、新硬件配置使數(shù)據(jù)采集時間縮短

   6、64-bit，Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件，使數(shù)據(jù)分析速度高了10倍

   7、頻率，操作簡易

   8、直觀的Vision64用戶界面，操作簡易

   9、針尖自動校準系統(tǒng)

   10、布魯克（Bruker）以實惠的配置實現(xiàn)高的性能

   11、單傳感器設計，提供單一平面上低作用和寬掃描范圍

      建立在40多年的探針輪廓技術的知識和經驗薄膜測試儀，在基于微處理器的輪廓儀，和300mm自動輪廓儀DektakXT繼承了以往的。新的DektakXT是single-arch設計的探針輪廓儀，內置真彩高清光學攝像機，及安裝64-bit并行處理架構已獲得測量及操作效率的探針輪廓儀

當需要臺階高度、表面粗糙度、測量時，人們就會借助Dektak。引進DektakXT，Bruker能讓您進一步獲得表面測量

數(shù)據(jù)采集和分析速度
  直接驅動掃描平臺，Dektak XT減少了掃描間的時間，而沒有影響分辨率和背景噪聲。這一改進大范圍掃描3D形貌或者對于表面應力長程掃描（就探針輪廓儀而言，通常是耗時的）的掃描速度。在行業(yè)的質量和重現(xiàn)性前提下，DektakXT可以將數(shù)據(jù)采集處理的速度。另外，DektakXT采用Bruker64-bit數(shù)據(jù)采集分析同步操作軟件Vision64，它可以大范圍3D形貌圖的高數(shù)據(jù)量處理速度，并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描是的數(shù)據(jù)分析。Vision64還具有行業(yè)內的直觀用戶界面，簡化了實驗操作設置，自動完成多掃描模式，讓重復和常規(guī)的實驗操作變得更快速簡潔。